描述

概述

HORIBA多年来一直在销售xrt - wr系列EDXRF分析仪,用于对含Pb、Cd、Hg、Cr、Br、Sb等有害元素的样品进行检测,以及对无卤素应用的RoHS、ELV和Cl进行检测。

XGT系统每天都在世界各地使用。堀田现在开发了新的MESA-50 EDXRF分析仪,基于其长期的经验与客户的要求和知识。台面-50提供了用户友好的操作和良好的性能。MESA-50包括三种分析直径,适用于每个样品,从薄电缆和电子部件到散装样品。SDD探测器与DPP的结合改变了EDXRF的图像。

堀田的新MESA-50项目支持生态采购;它不仅为欧盟RoHS和ELV符合性测试做出贡献,也为许多其他国家的监管工作做出贡献。

特性

1.快速

  • 硅漂移探测器(SDD)极大地减少了测量时间,并提供了更高的灵敏度,为真正的高通量分析。

2.小

  • 携带方便,占地面积小,重量轻
  • 电池内部电源

3.简单的

  • 减少日常维护工作(LN2自由操作)
  • 不需要真空泵
  • 直观简单的测量过程,适用于所有材料类型

4.聪明的

  • 英文/日文/中文用户界面
  • Excel®数据管理工具

5.安全

  • 不用担心x射线泄漏

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第一个回顾“x射线荧光分析仪”

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